全自動芯片四面外觀檢測設(shè)備

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全自動芯片四面外觀檢測設(shè)備

主要應(yīng)用于光通訊、高功率激光芯片等單芯片外觀檢測；檢測缺陷類型：臟污、劃痕、崩邊、異色、解理紋、膜層脫落等;

AOI-LD420機型是針對激光芯片外觀檢查所開發(fā)的高精度鏡檢系統(tǒng)，應(yīng)用于Chip晶粒制程中的缺陷檢查，節(jié)省人力，提升制程的品質(zhì)穩(wěn)定性。本系統(tǒng)基于精密運動和減震平臺，搭載納米級光學(xué)系統(tǒng)，核心視覺系統(tǒng)采用傳統(tǒng)算法和AI算法結(jié)合，完成芯片取放，AR面/HR面/P面/N面的檢查，識別芯片編號和關(guān)聯(lián)對應(yīng)輸出缺陷信息;

產(chǎn)品咨詢電話：13811928592（毛總）
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易操作，快速建模，類似產(chǎn)品可自動生成模板
基于深度學(xué)習(xí)的缺陷檢測+傳統(tǒng)算法輔助，參數(shù)可自由設(shè)定卡控
支持離線復(fù)判，支持報表訂制修改
可實現(xiàn)不破膜取料，降低產(chǎn)品損傷率
可實現(xiàn)訂制吸嘴，減小壓傷風(fēng)險
納米級高精度光學(xué)檢測平臺
定制鏡頭，支持選配微弱解理紋專項檢測

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