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全自動巴條四面外觀檢測設備

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全自動巴條四面外觀檢測設備

主要應用于光通訊、高功率激光芯片等巴條外觀檢測;檢測缺陷類型:臟污、劃痕、崩邊、異色、解理紋、膜層脫落等;

AOI-LD 410 機型是針對激光芯片外觀檢查所開發(fā)的高精度鏡檢系統(tǒng),應用于Bar制程中的缺陷檢查,節(jié)省人力,提升制程品質穩(wěn)定性。本系統(tǒng)基于精密運動和減震平臺,搭載納米級光學系統(tǒng),核心視覺系統(tǒng)采用傳統(tǒng)算法和AI算法結合,完成芯片取放,AR面/HR面/P面/N面的檢查,識別Bar編號和關聯對應輸出缺陷信息;

產品咨詢電話:13811928592(毛總)
產品咨詢郵箱:[email protected]
  • 易操作,快速建模,類似產品可自動生成模板

  • 基于深度學習的缺陷檢測+傳統(tǒng)算法輔助,參數可自由設定卡控

  • 支持離線復判,支持報表訂制修改

  • 雙工位同時檢測,效率提升

  • 納米級高精度光學檢測平臺

  • 定制鏡頭,支持選配微弱解理紋專項檢測