主要應(yīng)用于光通訊、高功率激光芯片等巴條外觀檢測(cè)；檢測(cè)缺陷類型：臟污、劃痕、崩邊、異色、解理紋、膜層脫落等;

AOI-LD 410 機(jī)型是針對(duì)激光芯片外觀檢查所開發(fā)的高精度鏡檢系統(tǒng)，應(yīng)用于Bar制程中的缺陷檢查，節(jié)省人力，提升制程品質(zhì)穩(wěn)定性。本系統(tǒng)基于精密運(yùn)動(dòng)和減震平臺(tái)，搭載納米級(jí)光學(xué)系統(tǒng)，核心視覺系統(tǒng)采用傳統(tǒng)算法和AI算法結(jié)合，完成芯片取放，AR面/HR面/P面/N面的檢查，識(shí)別Bar編號(hào)和關(guān)聯(lián)對(duì)應(yīng)輸出缺陷信息;

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